点の計測から面計測まで広範囲なひずみ・温度計測を実現!!
- FBI-Gaugeは、光ファイバを検査品の表面に貼り付けることで、温度とひずみを計測するセンシングシステムです。光ファイバに沿って連続的に計測できるため、点の計測から連続的な線や面まで広範囲の計測が可能です。
大量のひずみゲージを使用することなく、設置コストと設置時間の大幅削減ができます。
計測のフロー
ハードウェア「ODiSI」
「ODiSI」は米国Luna Technologiesが開発した、ひずみ・温度の分布型光ファイバ センシング専用器です。光ファイバ内の微小反射光「レイリー散乱光」をOFDR(※)方式で検知することによりミリレベルの位置解像度で計測することを実現しました。
※Optical Frequency Domain Reflectometory
特徴
●測定範囲 : | 1~50m |
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●最小測定ピッチ : | 0.65mm |
●測定サイクル : | ~250Hz |
●最小測定分解能 : | ±1.0μStrain ±0.1℃ |
●計測範囲 : | ±12,000μStrain -50~300℃(ポリイミドファイバ) -200~800℃(金コーティングファイバ) |
3次元評価システム
センシング結果から3次元評価を行うシステムです。
大規模な計測データを迅速に処理し、形状と計測結果を直観的に理解できる最先端の評価システムです。
主な機能
● 3次元評価機能(3次元カラーコンター表示他)
● 3次元寸法測定機能
● 3次元寸法測定機能
● 2次元グラフ
● 3次元グラフ
● 各種フィルタリング機能
● 各種評価支援機能